Ion-beam Milling System/精密离子束减薄仪

型号：美国GATAN公司 PIPS II 695精密离子减薄仪

离子源：氩离子

最大研磨角：±10°

离子束能量：0.1 ~ 8.0 KeV

真空度：5×10^-6 Torr

特性：双离子腔减薄、CCD实时观察、触摸屏GUI、冷台

主要功能：采用聚焦离子束制备金属、陶瓷、薄膜、复合材料、颗粒等各种材料的透射电镜试样，薄区面积

大、损伤小